NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪（超薄油膜厚度测量）是一款技术先进的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力，在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。此外Vista Learning算法专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计。反射通道的光斑尺寸可轻松从 1.5 毫米调节至 0.2 毫米，这大大拓展了厚度测量的应用范围。作为一款桌面设备，NS-Vista 代表了该领域的先进技术。 
一、NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪的特色：
1、双通道同时测量反射率与透射率，皆可结算厚度；
2、测量高反射率与低反射率样品能力，玻璃基底的膜厚测量不再难；
3、0.2mm到1.5mm光斑超宽动态调整范围；
4、Vista Learning 算法专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计；
二、参数规格：
1、取决于具体材料；
2、Si/SiO2(500~1000nm)标样片；
3、计算100次测量500nm SiO2标准片的1倍标准偏差，对20个有效测量日的1倍标准偏差取平均；
4、计算100次测量500nm SiO2标准片的平均值，对20个有效测量日的平均值做2倍标准偏差。
