NS-Touch NIR 手持式曲面涂层薄膜测厚仪（弯曲表面膜厚仪）是悉识科技（AcuiTik）推出的一款专为测量弯曲表面薄膜厚度而设计的手持式设备。能够在几秒钟内快速分析薄膜的反射光谱数据，并分析单层和多层薄膜的厚度。专用的手持式探头方便测量诸如眼镜、车灯等弯曲表面。
一、规格参数
- 型号：NS-Touch NIR
- 波长范围：950 nm – 1700 nm
- 厚度测量范围：0.1 μm – 250 μm (具体取决于材料)
- 准确度：0.02 μm 或 0.4%
- 测量精度：0.002 μm
- 光斑大小：100 μm
- 测量速度：< 1秒/次
二、主要特点与应用场景
NS-Touch NIR 的设计特别注重实际操作的便捷性和测量结果的可靠性，主要特点包括：
1、便捷测量弯曲表面：其手持式探头设计非常适合直接测量眼镜、汽车灯罩等不规则或弯曲表面的膜层，无需复杂取样。
2、强大的软件算法：内置的 AutoCal算法能有效减少日常校准的繁琐工作，而自动样品检测算法则让测量过程非常直观，易于上手。
3、精准测量超薄膜层：针对疏水层（Hydrophobic Layer）这类仅约百个原子厚度的超薄膜，NIR型号利用其近红外波段特性，能够实现精确测量。它同样适用于抗反射涂层（AR Coating）和硬化膜（Hard Coating）的单层或多层厚度分析。
