高性价比白光干涉膜厚仪是一款桌面式手动膜厚测量分析系统，可用于coating胶厚监控测量。在保证整体小巧轻盈的同时，其准确度和稳定性丝毫未减。拥有NanoSense系列所有的算法软件功能，性价比高。
一、高性价比白光干涉膜厚仪核心原理：
垂直入射的高稳定宽波段光入射到样品表面，在各膜层之间产生光学干涉现象，反射光经过光谱分析以及回归算法可计算出薄膜各层的厚度。适合测量纳米级至微米级的透明或半透明膜层的厚度、反射率、折射率等参数。
光学非接触 手动薄膜膜厚测厚仪核心原理
二、产品特色：
1、测量范围：可测量1纳米到250微米的薄膜厚度、折射率、反射率。
2、非接触测量：可测量硬质材料、软质材料或表面易受损的样品。
3、多层膜测量能力：可以测量多层复合薄膜各层的厚度。
4、高精度，高稳定性：亚纳米级厚度测量精度，静态稳定性可达0.02纳米。
5、智能化算法：核心IP算法，一键式测量大跨度膜厚，极大简化测量流程。
6、特色软件功能：自研PolarX分析软件，包含配方预测验证、特殊材料捏合等功能。
三、特别说明：
1、手动测量，高灵活度；
2、可定制便携手提箱，随时随地进行膜厚分析；
3、可选配大尺寸样品台；
苏州悉识科技在膜厚量测设备技术领域具有多年行业经验，实现了产品全国产自研，全自主可控。公司专注于白光干涉膜厚技术和椭圆偏振测量技术，这些技术在精密制造和科研领域扮演着至关重要的角色。悉识科技的产品线涵盖了桌面式膜厚仪、真空膜厚仪、手持式膜厚仪以及高速线扫膜厚仪等多种设备，这些设备均已成功投入市场，并得到了广泛应用。公司的产品具有高精度和稳定性，满足了半导体、显示面板、光伏、硬膜和抗反射涂层等多种应用场景的需求。
