QNix4200/4500 涂层测厚仪性能特点：
QNix4200和QNix4500采用一体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。其中QNix4200为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层；QNix4500为磁性和涡流两用测厚仪，不仅可以用来测量钢铁等磁性基体，还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的涂层、氧化膜、磷化膜等覆层。操作简单，携带方便，精度高，为广大用户所喜爱。产品优点：只需调零，无需校准
体积小巧，操作方便，自动识别基体，精度高 ，价格便宜
QNix4200/4500 涂层测厚仪探头：
| 探头形式 | 一体式 |
| 可选探头 | Fe铁基探头：0-3000μm NFe非铁基探头: 0-2000μm |
QNix4200/4500 涂层测厚仪技术参数：
测量范围：Fe铁基探头：0-3000μm NFe非铁基探头: 0-2000μm显示精度：0.1um 重量：110g
精度：0-50um:≤±1um；
下限小接触面：
下限小曲率半径：
下限小基体厚度：
温度补偿范围：0-60℃
显示：LCD液晶(带背光)
探头：红宝石固定式
电源：2×1.5V干电池
尺寸：100×60×27mm
QNix4200/4500 涂层测厚仪标准配置：
主机含探头、
校准基体、
电池、
随机文件、
仪器箱
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