固态硬盘恒温恒湿试验箱主要用于测试内存模块、快闪记忆碟/记忆卡、固态硬盘、外接式硬盘及键盘鼠标等产品在高温，低温，湿热，高低温恒温，高低温循环，高低温交变，恒定湿热，交变湿热，高温高湿，低温高湿，高温低湿等环境下使用或储存时的可靠性能。

    固态硬盘恒温恒湿试验箱主要用来测试内存模块、快闪记忆碟/记忆卡、固态硬盘、外接式硬盘及键盘鼠、LED半导体、LED光电、LED照明、LED灯柱、LED电源、LED模组、LED模块、LED显示屏、LED灯泡、LED日光灯、LED芯片、LED电视、LED显示器、LED数码管、LCD、LCD模组、LCD液晶屏、LCD触摸屏、LCD显示器、PCB、PCB电路板、PCB线路板、FPC、电子、电工、电器、光电、光伏、光纤、电容器、电阻、电脑、电线、电缆、通讯设备、太阳能组件、电子产品、电子元器件、通讯、数码产品、塑胶、橡胶、化工、涂料、油墨、油漆、医药、建材、汽车、胶粘、印刷、陶瓷、五金、航空、航天、、高分子材料、合成材料行业。

满足标准：

美用标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度    

美用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温    

美用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温    

美用标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验    

美用标准,MIL-STD810D方法502.2    

美用标准,MIL-STD810方法507.2程序3        

美国半导体行业标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验    

美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验    

美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验    

日本工业标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态    

日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热    

日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温

国际电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热  

国际电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷    

国际电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热    

中国国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温    

中国国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温    

中国国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法    

中国国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验    

中国国家标准,GB/T2423.4-93方法    

中国国家环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验