电子电器专用高低温交变湿热试验箱又名可程式恒温恒湿试验箱。该设备主要用于测试电子，电器，电子产品，电子元器件在各种温湿度条件下使用时的可靠性能。KW-TH系列高低温交变湿热试验箱可模拟的温湿度条件包括高温、低温、高低温循环、高低温交变、高低温恒温、恒定湿热、交变湿热、高温高湿、低温高湿、高温低湿等试验条件。可满足各种国标高低温交变湿热测试的要求及功能。可测试电子电器产品的耐热、耐寒、耐干、耐湿、耐温度变化等性能。该设备是电子，电器厂家品质部及研发新产品比不可少的可靠性测试设备。
电子电器专用高低温交变湿热试验箱满足标准及试验方法：
国际电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热
国际电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷
国际电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热
中国国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温
中国国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温
中国国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法
中国国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验
中国国家标准,GB/T2423.4-93方法
中国国家环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验
美国标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度
美国标准,MIL-STD-810F-501.4 高温
美国标准,MIL-STD-810F-502.4 低温
美国标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验
美国标准,MIL-STD810D方法502.2
美国标准,MIL-STD810方法507.2程序3
美国半导体行业标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验
日本工业标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温
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