冲击试样缺口投影仪
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| 冲击试样缺口投影仪 一. 产品说明： CST-50型是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229—94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。 二. 主要技术指标： 1、投影屏直径：200mm 2、工作台尺寸： 方工作台尺寸：110×125mm 方工作台直径：90mm 工作台玻璃直径：70mm 3、工作台行程： 纵向：±10mm 横向：±10mm 升降：±12mm 4、工作台转动范围: 0～360° 5、仪器放大倍率：50X 物镜放大倍率： 2.5X 投影物镜放大倍率：20x 6、光源（卤钨灯）：12V 100W 7、电源： 220V 50Hz 8、外形尺寸：515×224×603mm 9、重量： 18kg |
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