FISCHERSCOPE X-RAY 5000 x射线荧光测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY 5000系列仪器是为了集成到生产线而特别设计的法兰式测量头。它适合于在连续运转的生产过程中连续、非破坏地在线直接对大面积产品进行合金成分分析或者*薄镀层测量。相对于X-RAY 4000系列而言，X-RAY5000没有配备可切换的滤片和准直器，也没有配备视频系统，因为这些装置对于表面积很大的样品来说通常是不需要的。

X-RAY 5000系列仪器可以根据使用进行定制：X射线源、基本滤片和半导体接收器，更能为您的应用配备*优良的半导体接收器。仪器可以在空气或者真空环境下使用，此外还可以提供带有水冷系统的法兰接口，它可以让仪器毫无问题地测量表面温度非常高的样品（表面温度*高可达500℃）。

根据仪器的设计，测量距离可以在60mm至150mm之间调节：在特定的情况下，测量距离*大允许有1厘米的变动，例如由于样品的起伏引起的，在测量时，WinFTM软件会自动进行补偿。仪器的校正直接在生产过程中对着校准板快速而简便地完成。通过纯元素库的进行更好的校正（类似于台式仪器的校准过程）是可行的，但是通常没有必要。X-RAY 5000由于配备了*大的准直器、*优良的半导体接收器和数字脉冲处理器，重复精度非常好。仪器出色的长期稳定性也大大降低了重新校准的必要，这样既节约了时间，又节约了资源。

特征：
• 带玻璃窗口的钨靶的X射线管，也可选铍窗口微聚焦钨管、铑管或者钼管，z高工作条件：50 kV, 50W
• X射线接收器采用珀耳帖法冷却的硅-PIN探测器或者硅漂移探测器
• 固定的视准器：可选Ø 1 mm, Ø 2 mm, Ø4 mm 或者Ø 8 mm （使用SDD的机型还可以选用 Ø 11 mm）
• 固定的基本滤片
• 测量距离：可选60–100 mm 或者100–150mm

典型应用领域：
• 太阳能光伏业(CIGS, CIS, CdTe)
• 分析金属带、金属箔和塑料薄膜上的*薄镀层
• 连续生产过程在线测量
• 喷镀和电镀线的过程监控
• 测量大面积样品

应用实例：

在光伏产业中，FISCHERSCOPE X-RAY 5000用来测量不同基材（如玻璃、金属和塑料）上的CIGS、CIS和CdTe层的厚度和成分。该仪器设计非常紧凑，可以通过标准法兰直接集成到生产线中去。整个工业设计专注于*大化其鲁棒性和可维修性。例如：仪器可以在生产线真空环境中进行修理和维护，而并不需要中断真空过程。为了将X-RAY 5000测量系统整合到上级的过程控制系统中，仪器具备符合工业标准的开放端口，例如：OPC。

太阳能光伏业(CIGS, CIS, CdTe)