尼克斯 QNix 8500 涂层测厚仪膜厚仪 维修校准
尼克斯 QNix 8500 涂层测厚仪膜厚仪产品优点
• 只需调零，无需校准
• 测量精度高
• 一体分体通用
• 可配多种探头
• 中英文菜单操作
• 智能化
• 带存储，并可连计算机对数据进行处理分析
• 可连接薄镀层探头，对极薄的镀层厚度精确测量，误差小于±3um
尼克斯 QNix 8500 涂层测厚仪膜厚仪技术参数
基 体 | Fe、NFe、NFeNFe |
探头形式 | 一体、有线分体、无线分体 |
显 示 | LCD液晶显示 |
测量范围 | 0－2000μm 0－5000μm |
测量精度 | 0－2000μm：≤±2％ 2000－5000μm：≤±3％ |
小基体 | Fe：10mm×10mm NFe：6mm×6mm |
薄基体 | Fe：0.2mm NFe：0.05mm |
小曲率 | 凸半径：5mm 凹半径：30mm |
储存温度 | －10℃ --－ 60℃ |
温度补偿范围 | 0℃ --－ 60℃ |
电 源 | 2节1.5V干电池 |
尺 寸 | 124mm×67mm×33mm |
重 量 | 120g（含电池及探头） |
存 储 | 一个数据组，1000个测量值 |
数据传输 | 通过USB模块和电脑无线传输 |
统计功能 | 平均值，大值，小值，标准偏差 |
尼克斯 QNix 8500 涂层测厚仪膜厚仪可选探头
• Fe铁基探头： 0－2000μm 0－5000μm
• NFe非铁基探头: 0－2000μm 0－5000μm
• NFe/Fe两用探头：0－2000μm 0－5000μm
• 无线传输探头
• 薄镀层探头
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