一、产品概述：
全自动中空玻璃露点仪是《中空玻璃》低温露点的测试仪器。本产品采用全新的设计理念，由压缩机组和半导体制冷片两部分组成，降温速度快，测温精度高，噪音低，重量轻，方便移动。本产品既改正了叠式双压缩机组测温精度低，噪音大，不方便移动的不足，又避免了半导体制冷片降温速度慢，温度降不到标准-60℃的弊病。本产品跨越了市面现有产品的技术瓶颈，了该项目的空白，可取代繁琐的干冰式中空玻璃露点仪。
1. 名称：中空玻璃露点仪（半导体式）
2. 型号：G
3. 执行标准：GB/T11944-2012《中空玻璃》关于露点测定部分
4. 介绍：IMLD-B中空玻璃露点仪是根据标准GB/T 11944—2012规定的技术条件制造的一种仪器。
5. 用于检测中空玻璃试样内表面在标准规定条件和方法情况下是否结露。
6. 应用领域：大专院校、科研单位、中空玻璃生产、使用单位以及相关检测单位。
1. 采用半导体三级制冷的技术，制冷的温度可以精确设定和控制，制冷速度快，操作十分方便，不仅可以在试验室内使用，而且可在现场进行检测，不需要使用容易挥发的干冰，使用方便且使用成本低廉。
2. 探头和制冷机组可实现分离，方便实用且不受试件方向限制。
3. 集成了电源、冷却、循环和控制系统，实现全过程自动控制，机箱和探头由软管连接，检测时探头的工作面与试件接触，探头的工作面可以为任意方向。
4. 采用pt100温度探头，测量精度高，数据准确。
5.温度值控制采用微机温控PID调节技术，控温精度高，温度稳定性高。
1. 测量探头工作温度：-60℃～-40℃
2. 测量探头直径：50mm
3. 数显温度计测量范围：-65℃~ +50℃（注：测量范围可调）
4. 温度分辨率： 1℃
5. 试件尺寸：510mm×360mm
6. 控制箱尺寸：470mm×550mm×700mm
7. 试验环境：温度：23℃±2℃ 相对湿度：30%~75%RH
8. 试验时间
原片玻璃厚度/毫米 接触时间/分钟
≦4 3
5 4
6 5
8 7
≧10 10
售后说明
所保承诺：
1、用户所购仪器在正常使用过程中出现质量问题，如在保修期（一年）内请您根据产品保修卡或说明书等相关资料所标明的方式直接与厂家或维修站。如果您的要求没有得到答复请及时与我们客服中心，我们会协助您维护您的权利。
2、出现下列任何一 种情况用户不能享受一年质保承诺
仪器曾受到非正常使用、非正常条件下存储、暴露在潮湿环境中、暴露在温度过高或过低温度中、未经的修理、误用、疏忽、滥用、事故、改动、不正确的安装、不可抗力、食物或液体溅落、仪器的正常磨损等。超出质保期（一年）的仪器。
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