晶粒测量专家Leica Grain Expert
自动的, 客观和可重复的晶粒尺寸分析
晶粒度分析是用来评估材料特性用于帮助确定最终产品的特性.Leica 晶粒专家提供用户一个晶粒度分析技术的简明选择. 用户可以自信地对该分析过程判断他们的特别的实验要求通过应用有关的工业标准.
Leica 应用套装提供它整合和的自动化显微镜, 计算机和数码图像分析. 晶粒边界辨认快速地用经典图像处理技术和在秒间显示结果.
为您带来的优势
统一的可靠性
Leica 晶粒专家符合广泛的晶粒度标准包括 ASTM, JIS和 ISO, 给用户加强结果的可靠性。
一步步引导操作
应用精灵快速地导引操作员通过必需的图像处理和分析过程, 用最小的努力产生一致, 可重复的结果。
自动的边界辨认
几乎实时的晶粒边界辨认容许操作员快速地确认结果。
灵活的报表
报告模板可以自定义为符合实验室的要求通过使用Microsoft® Excel™ 地匹配实验室的需要。
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