Filmetrics薄膜厚度测量仪以真空镀膜为设计目标，F10-RT薄膜厚度测量仪只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。只需简单操作。用户就能进行FWHM并进行颜色分析。可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。
产品特点优势：
同步测量薄膜的反射率/穿透率，1s内获得结果；
简单快速、易于使用的分析优点；
设备具有完整标准配置，确保设备高度可靠；
测量结果能被快速地导出和打印。
产品测量原理：
当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。
