XRD冷热台专为X射线衍射分析仪设计的原位装置，精准掌控材料在变温、力学加载等多场耦合条件下的实时响应，可精准适配布鲁克、赛默飞、理学、岛津等主流XRD设备。
果果仪器XCH600XRD冷热台：温度范围-190°C~600°C，温度稳定性土0.1°C，能实现定点、斜率、程序段多模式精准控温。
载样台反射/透射可选；圆弧形窗口设计，衍射角2θ：∠0°～∠164°，采用Kapton膜作为视窗；
可定制支架 ，适配各种型号X射线衍射仪，如理学、布鲁克、赛默飞、岛津、帕纳科等。
XRD冷热台XCH600特点：
温度范围：-190℃~600℃
温度稳定性：±0.1℃
衍射角2θ： ∠0°～∠164°
视窗材质：Kapton膜
气氛腔室，可升级真空
可更换上盖，作为普通冷热台使用
XRD冷热台是一款专为X射线衍射(XRD)实验设计的高性能控温设备，能够实现定点、斜率和程序段多模式的精准温控，为材料科学研究和工业应用提供了重要技术支持。在现代材料分析中，温度对晶体结构、相变行为及材料性能的影响至关重要，冷热台通过精确调控样品温度，使科研人员能够在实验室条件下实现高精度的热处理与结构分析。
在定点控温模式下，XRD冷热台能够将样品保持在设定的恒定温度，实现长时间稳定测量。这对于研究材料的热稳定性、相变温度及晶格常数随温度变化的规律非常重要。例如，在陶瓷、金属合金或功能性材料的研究中，科研人员可以通过在不同恒温点进行XRD扫描，准确分析材料晶体结构随温度的变化，为材料设计和工艺优化提供科学依据。定点控温模式不仅保证了测量的重复性，还可以避免温度波动对实验数据的干扰，提高分析精度。
斜率控温模式是冷热台的一大特色功能，能够实现以设定升温或降温速率对样品进行温度扫描。这种模式适用于研究材料在加热或冷却过程中发生的动态变化，如固态相变、晶体缺陷形成或溶解沉淀过程。科研人员可以通过设定不同斜率参数，获得详细的温度-时间响应数据，从而深入了解材料的热力学行为和动力学特性。斜率控温在热敏感材料和相变材料研究中尤其重要，它可以帮助研究人员识别关键转变点并优化材料性能。
