氧化诱导期介绍

氧化诱导期介绍

氧化诱导期（OIT）测试仪是材料科学中用于评估材料热稳定性和抗氧化性能的重要设备‌。以下是关于氧化诱导期测试仪的详细介绍：

. ‌工作原理‌：基于差示扫描量热法（DSC），通过监测样品在惰性气氛下加热至预定温度后，切换为氧气环境，记录样品开始放热反应的时间，即为氧化诱导期。

. ‌应用‌：主要用于聚合物、塑料、橡胶等材料的热稳定性和抗氧化性能的评估，对于优化材料配方、提高产品质量、延长使用寿命具有重要价值。

. ‌特点‌：现代OIT测试仪具备精度高、灵敏度高、操作简便、自动化操作和数据处理等特点，极大地提高了测试效率和准确性。

DSC-500AOIT型氧化诱导期测试仪国NEI SHOU创专用氧化诱导期测试仪，内嵌10.1寸安卓工控电脑，无需连接电脑，一键式操作测试氧化诱导期和熔点，自动生成氧化诱导期图谱，可接打印机打印报告图谱。自动氧化诱导期操作结束后仪器蜂鸣提示，过程无需人员看管，简单高效。符合国标GB/T2951.42-2008、GB/T15065-2009、GB/T17391-1998、GB/T19466-2009,IEC60811-4-2:2004、GB/T19466.6-2009。

技术特点

1、10.1寸工业级别的宽屏触摸结构，显示信息丰富，包括设定温度，样品温度，氧气流量，氮气流量，差热信号，各种开关状态。

2、直接连接打印机打印报告图谱和溯源报告。

3、炉体结构紧凑，升降温速率任意可调。

4、改善了安装工艺，全部采用机械固定方式，WAN全避免炉体内部胶体对差热信号的污染。

5、双温度探头，保证样品温度测量的高度重复性。

6、自动切换两路气流量，切换速度快，稳定时间短。

7、标配标准样品，带自动温度校准功能。

8、内嵌工控电脑，无需连接电脑，直接测试氧化诱导期时间和熔点。

9、可用U盘导出氧化诱导期测试图谱和熔点测试图谱。

10、PC机软件自适应各种分辨率电脑屏幕；支持笔记本，台式机，支持WIN2000、XP、WIN7、WIN8、WIN10等操作系统。

11、可以设置三级账户，具有溯源记录和查找功能。

技术参数

1. DSC量程: 0～±200mW/0～±500mW

2. 温度范围: 　 室温～500℃

3. 升温速率: 0.1～80℃/min

4. 温度分辨率: 0.01℃

5. 温度波动: ±0.1℃

6. 温度重复性: ±0.1℃

7. DSC噪声: 0.001mW

8. DSC解析度: 0.001mW

9. DSC精确度: ±2%

10.DSC灵敏度: 0.001mW

11.控温方式: 升温、恒温、降温、循环（全程序自动控制）

12.曲线扫描: 升温扫描

13.气氛控制: 自动切换氮气氧气

14.显示方式: 24bit色，10.1寸 工控电脑

15.数据接口: 标准USB接口、RS232

16.参数标准: 配有标准物质，一键温度校准

氧化诱导期曲线图：

实物图展示:

该型号广泛应用于各大管材 薄膜生产企业以及高校科研机构，得到用户的YI致HAO评。