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XRF-2000测厚仪的基本特性

2026年04月29日 11:55:45      来源:工业之家 >> 进入该公司展台      阅读量:4

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 XRF-2000测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优,而且价钱*同比其他牌子相同配置的机器,本产品为您节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的选择。可测量各类金属层、合金层厚度等。
 
基本特性
1.高效性:XRF-2000测厚仪采用X射线穿透物质时,不同物质对X射线的吸收程度不同的原理进行测量。这一过程只需10-30秒即可获得测量结果,大大提高了测量效率。
2.精确性:该测厚仪可准确测量各种金属镀层、薄膜等的厚度,测量误差范围在不同条件下有所波动,但总体上保持了较高的精确性。例如,镀金层的测量误差约为5%,镀镍层的测量误差约为15%等。
3.功能性:该型号测厚仪不仅可测量单镀层、双镀层、多镀层及合金镀层厚度,还具备实时监测刻蚀深度和沉积层厚度的能力,为制造业提供了全面的厚度测量解决方案。
 
XRF-2000测厚仪的优势
1.非接触式测量:该仪器采用无损检测技术,不需要接触测量物体,避免了传统测量方法可能会对测量物体产生损伤的问题。
2.高精度:该测厚仪的测量精度高,可以实现高精度的测量结果,保证了制品的质量和合格率。
3.测量速度快:相较于传统的测量方法,它可以快速地进行测量,提高了生产效率。
4.适用范围广:它可以测量多种材料的厚度,如金属、塑料以及各种复合材料等,具有很高的适用性。
5.操作简便:仪器操作简单,使用方便,即使是没有经验的工作人员也能够轻松地进行测量。
 

 

 
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