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光纤连接的双向测试

2026年02月25日 09:14:14      来源:广州市辉澎信息科技有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:2

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  两条不同模场直径的连接时会出现过度损耗和伪增益。光纤模场直径与区域大小相对应,在该区域中光沿纤芯和包层散开。模场直径不匹配会造成背向信号存在差异,这些差异与熔接点处的真实损耗无关。在测试含有不同类型或不同制造商生产的光纤链路时,单向OTDR曲线会由于测量方向的不同而在曲线上显示损耗明显减少(过度损耗)或增加(伪增益)。双向分析会使用各事件的平均损耗生成一个事件表,提供精确测量值。

  因此,对于单模光纤中的熔接损耗测量,在工程中通常建议使用双向分析方法,以减少过度损耗和伪增益的影响。

  FTB一400通用测试系统OTDR模块的双向分析仅适合用于离线操作,因而在分析之前,必须先获取和储存曲线。如果在一根光纤上以相反的方向获得0TDR曲线,双向分析可匹配对应的事件。双向分析即可以分析单波长曲线,也可以分析多波长曲线,其分析结果会显示在双向表中,其中包括了最重要的信息,即平均损耗。在A—B信息和B—A信息中,还可更改当前轨迹设置,所进行的改变将影响到轨迹的显示。

  进行双向分析的两条曲线有许多限制条件,如果两条曲线的条件不匹配,将出现错误或告警消息。例如,事件表、折射率、余长系数、散射系数中存在任何矛盾,会显示一条消息。


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