C84-III反射率测定仪技术参数
2026年02月22日 08:36:59
来源:上海乐傲试验仪器有限公司 >> 进入该公司展台
阅读量:4
C84-III反射率测定仪工作原理
本仪器由探头、主体、标准板(黑白各一块)、工作陶瓷板(黑白各两块)等组成。
探头采用0°照射,漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于硒光电池表面产生电讯号输入到直流放大器进行放大,并予以读数显示(详见光路原理图及仪器框图)。
C84-III反射率测定仪主要技术参数:
1、测量范围 0~100
2、重复 0.3%
3、显示数据与反射光强度成正比
4、仪器的光普灵敏度近似等于Sc与Y的乘积
5、环境温度 20°±5° 相对湿度<85%
6、输入电源 220V±10% 50Hz
版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:全球贸易网"的所有作品,版权均属于全球贸易网,转载请必须注明全球贸易网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。