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X荧光光谱仪技术资料

2026年02月12日 09:52:32      来源:上海澳程检测仪器有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:4

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X荧光光谱仪技术资料
2.3 仪器技术指标     
技 术 参 数  
1、仪器尺寸:830(W)*530(D)*500(H)mm                   
2、 样品腔尺寸:
小样品腔:300*300*100mm;
真 空 腔:ø 200*40 mm
             大样品腔:无限制,小于30公斤
3. 1分钟真空度可达5Pa
4、 重量:约100Kg
5、 工作环境温度:温度15—30℃
6、工作环境相对湿度:≤70%(不结露)
7、 可分析元素范围 : Al-U(可以检测无卤元素Cl和Br)
8、 *低检出限:Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Pb≤5ppm  CL≤250ppm
9、 测量时间 :300-500s (系统自动调整)
10、 *佳分辨率:149±5eV
11、 输入电源:AC 220V±10%,50Hz
11、额定功率:1500W
三、X荧光光谱仪技术资料仪器硬件部分主体配置
3.1 探测系统
1、探测器 
类型:电制冷Si-PIN探测器
(采用PIN结构的高性能电致冷半导体探测器)
型号:X-123
制造商:美国Amptek公司生产
Be窗厚度:1mil(0.0254mm)
*佳分辨率:149±5eV
系统峰背比:≥ 5000/1
能量响应范围:1keV ~ 40keV
推荐计数率:5000cps(DP4 Peaking Time=25.6us)
典型使用寿命:10年
2、信号处理系统 DP4(与探测器高度集成)
放大器增益自动调整;
脉冲成型时间自动调整;
MCA通道数*高可达8K;
每一通道总计数可达24位(16.7M)
 
 
 
2.3 仪器技术指标     
技 术 参 数  
1、仪器尺寸:830(W)*530(D)*500(H)mm                   
2、 样品腔尺寸:
小样品腔:300*300*100mm;
真 空 腔:ø 200*40 mm
             大样品腔:无限制,小于30公斤
3. 1分钟真空度可达5Pa
4、 重量:约100Kg
5、 工作环境温度:温度15—30℃
6、工作环境相对湿度:≤70%(不结露)
7、 可分析元素范围 : Al-U(可以检测无卤元素Cl和Br)
8、 *低检出限:Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Pb≤5ppm  CL≤250ppm
9、 测量时间 :300-500s (系统自动调整)
10、 *佳分辨率:149±5eV
11、 输入电源:AC 220V±10%,50Hz
11、额定功率:1500W
三、X荧光光谱仪技术资料仪器硬件部分主体配置
3.1 探测系统
1、探测器 
类型:电制冷Si-PIN探测器
(采用PIN结构的高性能电致冷半导体探测器)
型号:X-123
制造商:美国Amptek公司生产
Be窗厚度:1mil(0.0254mm)
*佳分辨率:149±5eV
系统峰背比:≥ 5000/1
能量响应范围:1keV ~ 40keV
推荐计数率:5000cps(DP4 Peaking Time=25.6us)
典型使用寿命:10年
2、信号处理系统 DP4(与探测器高度集成)
放大器增益自动调整;
脉冲成型时间自动调整;
MCA通道数*高可达8K;
每一通道总计数可达24位(16.7M)
 
 
 
    
 
              
 
        
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
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