Photonic lattice应力双折射仪主要简介：
WPA系列是Photonic lattic公司采用自研的光子晶体技术，开发的一款适用性高的应力双折射检测设备，可测量相位差（光程差）高达3500nm，适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测，高速而的测量能力受到各大光学厂和研究机构的青睐。数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。
WPA 系列是Photonic Lattice, Inc.针对高双折射的透明材料开发的光学测量设备，通过核心的偏光图像传感器，可以快速准确的测量透明材料的应力双折射，针对不同产品尺寸，均有可匹配的型号可供选择。
Photonic lattice应力双折射仪主要特点：
可快速自动测量应力双折射的大小、方向和分布；
面测量、可一次测量视野范围内样品的全部数据；
具备点、线、面、3D的分析功能；
三波长可量测0-3500nm，可拓展至10000nm；
可输出光程差（nm）、偏振角度（°）、应力（Mpa）、应力双折射（nm/mm）。
基本原理
应力双折射是指在外部应力作用下，材料的光学性质发生变化，导致光的传播速度和方向发生改变。具体来说，当光线通过一个受力的各向异性材料时，光的传播速度会因材料内部的应力状态而不同，从而产生双折射现象。应力双折射测量仪利用这一原理，通过测量光的偏振状态和传播路径的变化，来推算材料内部的应力分布。
