XRF-2020测厚仪确实可用于测量电镀镀层厚度，原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。应用范围：可应用于电子、汽车、五金、塑胶等各类产品的电镀层厚度检测，如pcb板、端子连接器、半导体、卫浴洁具、五金电镀等。
可测镀层：能测量金、镍、银、锡、锌、铜、锌镍合金等多种金属镀层的厚度，以及单镀层、双镀层、多镀层及合金镀层的厚度。
XRF-2020测厚仪的测量原理基于荧光X射线技术，具体如下：
1.激发源发射：仪器中的X射线管产生高能量的X射线，这些X射线通过光圈聚焦后照射在样品表面非常小的区域（光斑尺寸）。
2.原子相互作用：当X射线与光斑内元素的原子相互作用时，会将原子内壳层的电子逐出轨道。外层电子跃迁填充内层空穴时，多余的能量以荧光X射线的形式发射出来。
3.特征X射线探测：探测器接收到这些荧光X射线，并根据其能量和强度进行分析。由于不同元素的特征X射线能量具有唯*性，因此可以通过探测到的特征X射线来确定样品表面的元素种类。
4.厚度计算：在不同能量段探测出的X射线强度与样品中的元素含量相关。对于镀层样品，根据镀层材料和基底材料之间特征X射线强度的差异，结合已知的物理模型和算法，计算出镀层的厚度。
