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紫外光刻AOD直写性能参数

2025年11月26日 14:21:07      来源:仪器百科 >> 进入该公司展台      阅读量:7

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   紫外光刻_AOD:激光直写设备主要用于无掩膜直接曝光转移微结构图案,以制备衍射光学元件、微机电系统。用于涂有光刻胶体的各种基板在(比如玻璃、硅片或其它平面材料)进行无掩膜直接曝光,将作为衍射光学元件、微机电系统加工平台设备。
  紫外光刻_AOD直写性能参数:
  1.系统特点
  光源  405nm或375nm
  基板尺寸  最大9寸
  基板厚度  0.1mm~15mm
  最大曝光面积  200×200mm?
  温度稳定性  ±0.1°
  灰度等级  4096
  扩展性  支持多通道扩展
  2.特色功能
  脚本化刻写模式  提供脚本化编程接口,支持用户自定义加工结构
  刻写与切片软件  支持JPG、TIFF、GDS等多种格式
  实时自动对焦  光学对焦
  自动对焦范围  100μm
  3.系统配件
  物镜  5×,10×,20×,50×,100×,可选高分辨镜头
  4.系统尺寸
  长宽高  1320mm×1320mm×2000mm
  重量  1100KG
  5.安装条件
  电气条件  230VAC±5%,50/60Hz,16A
  环境温度  温度:21±1摄氏度,湿度:50%~70%,无冷凝
  压缩空气  6-9bar,±0.5bar
  环境照明   黄光
  洁净等级  千级洁净间
  
 
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