一、为什么要测弱吸收？

光学材料或者光学薄膜的吸收会直接影响到光学系统的性能。

材料存在热透镜效应。如材料的弱吸收引起焦距变化示意图所示，当用强的激光照射某一透镜时，该介质可将吸收的能量周期性地转变成热能，使材料本身及周围介质的温度升高，从而引起其折射率的变化，使得透镜的焦距发生改变，形成热透镜效应，引起波形变化、退偏等现象产生，进而使得激光系统不稳定。

二、弱吸收低的晶体有什么优势？

一般测试1064/532nm处的弱吸收数值。

• 弱吸收低的材料，热效应会显著下降
• 热效应小的晶体在热管理上可以拥有更多的设计空间
• 热效应少的晶体热透镜效应更低，对输出光的影响更小
• 弱吸收小的晶体出光效率更高

三、弱吸收测量的主要方法有哪些？

为了改善光学材料或光学薄膜的质量，需要精确测量其微弱吸收。吸收系数的测量传统意义上一般采用分光光度计进行研究，但是其测量精度只到0.1％，而要测得ppm量级的吸收系数的主要测量技术有：光热偏转法、表面热透镜法、光热辐射技术、激光量热技术及光声光谱技术等等。

测量方法详细信息请见《光学镀膜指标——吸收损耗》。