X荧光镀层膜厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
X荧光镀层膜厚仪主要功能
1、膜厚测试仪适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度；
2、可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的探头使用；
3、具有探头零点校准、两点校准功能,可对系统误差进行自动修正；
4、已知厚度可以反测声速，以提高测量精度；
5、具有单点测厚和扫描测厚两种测厚工作模式；
6、可预先设置厚度值上、下限，超出范围自动报警；
7、具有耦合状态提示功能；
8、有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；
9、有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；
10、膜厚测试仪具有自动休眠、自动关机等节电功能；
11、带有RS232接口，可以方便、快捷地与PC机进行数据交换和参数设定。可以连接到微型打印机(厂家型号)打印测量报告。
12、可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能；
13、膜厚测试仪密封的金属外壳，小巧、便携、可靠性高，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰
在做测厚的时候要注意以下八点：
1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2、在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。
3、在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4、在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的电镀膜厚仪检测仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
7、在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此膜厚测试仪在进行对侧头清除附着物质。
