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x-ray设备检测技术参数

2025年04月22日 13:51:41      来源:工业之家 >> 进入该公司展台      阅读量:3

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x-ray设备检测目前被广泛用于产品缺陷无损检测,尤其在电子制造行业更为普及。那么大家知道为什么那么多企业选择X-Ray检测设备吗?
 
在x-ray设备检测未研制出来之前,市面上检测芯片的常见方法是层层剥开,然后用显微镜观察芯片的缺陷/探伤。但这方法无法准确检测出产品的缺陷,甚至可能对产品造成损坏,最Y重的情况是操作不当直接报废。
 
随后X-Ray检测设备研发成功并投入市场使用,很多人看到了它的优势。X-Ray检测设备可以在不损坏芯片的情况下完成对芯片检测,更大幅提高了企业产品质量和效率。
 
x-ray设备技术参数:
1.光管:
光管电压:90KV;
光管电流:200uA(软件限值89uA);
冷却方式:强制风冷。
2.成像系统:
视场:2"/4";
解析度:75/110 lp/cm;
X-CCD分辨率:1392*1040P;
几何放大倍率:12-48X。
3.检测效率与精度:
重复测试精度:60um;
软件检检测速度:≥1.5/检测点(不含上下料和运动时间)。
4.载物台:
标准尺寸:515mmX460mm;
有效检测区域:450mmX410mm;
载重量:≤5Kg。
5.安全标准:
国际辐射安全标准:≤1μSV/hr。
6.其他参数:
计算机:22"宽屏液晶显示器/触摸屏显示器/I5处理器/内存4G/硬盘500G;
尺寸/重量:1136mm*1076mm*1730mm 约750Kg;
电源:AC220V 10A;
温度和湿度:25 ℃±3 ℃ RH50%±10%。
 

 

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