飞行时间二次离子质谱仪 PHI nanoTOF3+ 

特征

先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力，更加出色的分析精度 

飞行时间二次离子质谱仪

新一代 TRIFT 质量分析器，更好的质量分辨率 

适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析 

离子束技术 

平行成像 MS/MS 功能，助力有机大分子结构分析 

多功能选配附件

TRIFT分析器适用于各种形状的样品 宽带通能量+宽立体接收角度

宽带通能量、宽立体接受角-适用于各种形貌样品分析

主离子束激发的二次离子会以不同角度和能量从样品表面飞 出，特别是对于有高度差异和形貌不规则的样品，即使相同 的二次离子在分析器中会存在飞行时间上的差异，因此导致 质量分辨率变差，并对谱峰形状和背景产生影响。 TRIFT质量分析器可以同时对二次离子发射角度和能量进行 校正， 保证相同二次离子的飞行时间一致， 所以TRIFT兼顾 了高质量分辨率和高检测灵敏度优势，而且对于不平整样品 的成像可以减少阴影效应。