可靠性强化盐雾试验箱试验的技术从80年代末至90年代初，在各工业部门推广的应用，无一例外地取得了很大的成功。但是名称不统一。如从事引项技术研究的G.K.Hobbs.K.A.Gray和L.W.Condra等人，他们称这种试验为高加速寿命的试验(Highly Accelerated Life Testing:HALT), 也有叫步进应力试验(Step stess Testing :SST)、应力寿命试验(Stress Life:STRIFE)以及应力裕度和强壮试验(Stress Margin And Robustness Test:SMART)等。波音公司在应用该技术时，提出了RET(可靠性强化试验)的概念。用可靠性强化试验来统称这类技术是较为合理的，国为它突出了强化的特点。
可靠性强化试验(TET)的目的是通过施加高于实际的使用的环境应力、工作载荷，快速寻找产品设计的缺陷，以改进设计提高产品固有可靠性的水平，主要用于模块级和单元级电子、机电产品，一般要求在产品研制阶段早期的开展。可靠性强化试验的理论基础是故障的物理学(Physics of failure)，即把故障或软的主要对象，通过发现、研究和故障达到提高可靠性的目的。高应力在很短的时间内达到长的时间低应力作用的效果，同时又不会受试的样品造成过应力损伤。可靠性强化的试验首先通过施加超过产品可能承受限度的应力，促使潜在故障表现崃，并确定产品的设计、正常操作和破坏的应力限，然后进行失效的分析直至找到故障的根本原因，确定所有故障的模式和相关的产品设计问题;最后进行改进并通过重新检验这种改进措施在失效的环境下的效果。可靠性强化的试验的一般流程。
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