二氧化硅纳米颗粒表面存在大量的不同状态的羟基不饱和残键，亲水疏油，易于团聚，必须要对其进行功能化改性，以提高性能及应用范围。
表面接枝率测定仪是一种用于测量二氧化硅纳米颗粒表面上接枝分子或聚合物的含量或密度的仪器。它可以评估材料表面的功能化程度和接枝效果。
表面接枝率测定仪检测原理：
LU 等科学家采用多洛伦兹分裂算法将游离 PEG 的NMR信号与接枝的 NMR信号区分开，从而可以使用1H-NMR对接枝过程进行原位监测。该方法的优点是不受接枝基团末端官能团类型、表面化学性质、纳米粒子或组成的限制，它还为相关科学研究提供表征纳米颗粒上基团接枝密度的关键和标准指南。低场核磁技术因为其设备成本较低，使用简单，适用于宏观样品等特性，非常适用于快速测定颗粒表面接枝率测定。它通过MSE系列序列实现死时间内的1H核磁信号采集，大程度的采集到了接枝在颗粒表面的基团中H原子核的信号，利用外标法进行定量分析。
表面接枝率测定仪产品功能：
样品：纳米二氧化硅
规格：可装入10mm口径试管，装样高度不超过2cm
注意事项：样品不得含有铁磁性物质
表面接枝率测定仪产品优势：
- 检测成本低
- 快速简单
- 适用于宏观样品等特性
- 无需任何业操作员培训
表面接枝率测定仪应用案例：
纳米颗粒表面积接枝基团
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