线对模式

　　高分辨率条形测试模式

　　X 射线测试模式用于高对比度和/或空间分辨率测量。该程序在X射线QA和服务方面有着悠久的传统，易于执行。测试模式用于薄膜屏幕系统、放大技术和X射线成像系统的分辨率能力。图案由各种铅厚度组成。每个图案通常相应的厚度。每个测试模式通常以塑料封闭，即组织等价物。每个模式的分辨率范围因测试类型而异。

　　高分辨率条形测试模式技术规格：

　　类型 1： 1.0 4.86 LP/mm / 16 组

　　类型 1-83： 0.5 5.0 LP/mm / 16 组

　　类型 2： 0.25 3.33 LP/mm / 16 组

　　类型 4A： 0.5 8.0 LP/mm / 2x 9 组

　　类型 4B： 0.5 5.5 LP/mm / 2x 13 组

　　类型 4C： 1.4 8.0 LP/mm / 2x 16 组

　　类型 6-2.8： 2.8 5.0 LP/mm / 2x 6 组

　　类型 10： 0.25 2.0 LP/mm / 6 组

　　类型 15： 0.315 1.25 LP/mm / 2x 7 组

　　类型 16： 0.5 4.0 LP/mm / 7 组

　　类型 17： 0.177 3.33 LP/mm / 18 组

　　类型 18： 0.5 5.0 LP/mm / 21 组 / 2 添加对比字段

　　类型 18a： 0.5 7，1 LP/mm / 24 组 / 2 添加对比字段

　　类型 18b： 0.5 10.0 LP/mm / 27 组 / 2 添加对比字段

　　类型 18c： 0.5 16.6 LP/mm / 31 组 / 2 添加对比字段

　　类型 18d： 0.5 16.6 LP/mm / 32 组 / 2 添加对比字段

　　类型 18e： 0.5 16.6 LP/mm / 30 组 / 2 添加对比字段

　　类型 21： 2.0 10.0 LP/mm / 16 组

　　类型 22： 3.54 4.86 LP/mm / 2x 4 组

　　类型 22A： 4.0 7.14 LP/mm / 2x 4 组

　　类型 22B： 3.93 5.5 LP/mm / 2x 4 组

　　类型 38： 0.6 5.0 LP/mm / 20 组

　　类型 41： 0.6 3.4 LP/mm / 2x 15 组

　　类型 42： 2.0 6.0 LP/mm / 2x 14 组

　　类型 43： 3.4 10.0 LP/mm / 2x 15 组

　　类型 46： 0.8 9.5 LP/mm / 2x 15 组

　　类型 52： 0.05 = 0.1 = 0.25 3.4 = 3.7 LP/mm / 19 组

　　类型 53： 0.25 = 0.5 10.0 6.0 LP/mm / 23 组

　　类型 54： 0.5 = 0.1 = 0.25 3.55 2.8 LP/mm / 28 组

　　类型 56： 0.5 = 0.1 = 0.25 3.55 2.8 LP/mm / 48 组

　　类型 68： 1.4 8.4 LP/mm / 2x 10 组

　　类型 80： 2.0 6.0 LP/mm / 2x 12 组

　　类型 81： 0.6 10.0 LP/mm / 26 组

　　类型 84： 0.6 5.0 LP/mm / 2x 16 组