XS3DU电子天平梅特勒电子天平电子天平-郑州宝晶电子科技有限公司

XS3DU电子天平梅特勒电子天平电子天平

技术特征：

具有的称量性能，满足基础称量应用：在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中的重复性可低至0.8 μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。
标准配置
内置称量应用程序
TouchScreen触摸屏，方便天平称量和参数设置
SmartTrac彩色动态图形显示器：图形称量辅助，跟踪称量范围和公差
可设置多达10个特定功能的快捷键
可定义3个的信息，用于用户和样品标识
内置RS232C和两个辅助接口；用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件，实现无需用手接触的称量操作
第二接口选件插槽；例如LocalCAN，以太网，RS232，MiniMettler，蓝牙或PS/2等接口选件
手动开关门的玻璃防风罩
可更换的显示屏保护盖
下挂钩称量
具有过载保护的称量传感器
显示多种质量单位
差重称量应用程序
计件和百分比称量应用程序
统计应用程序
技术指标

极限值 XS3DU 双量程
称量值 3.1 g
可读性：0.01 mg
称量值：0.8 g
可读性：0.001 mg
重复性(sd) - 加载处：0.006 mg
- 低加载（加载处）：0.005 mg (0.2 g)
重复性(sd) - 加载处：0.001 mg
- 低加载（加载处）：0.0008 mg (0.2 g)
线性误差：0.004 mg
四角误差（加载处）1)：0.005 mg (2 g)
典型值 4)
典型重复性（sd）：0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
典型微分非线性（sd）：√2x(10-12)g·R_nt
典型微分四角误差（sd）：1.2 x (10–6)•R_nt
典型灵敏度偏移（sd）2)：3 x (10–6)•R_nt
典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)：0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
典型稳定时间：< 6 sec
稳定时间：< 10 sec
1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) 次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
* 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。