尼克斯 QNix 8500膜层测厚仪*
优点：
德国尼克斯QNix8500膜层测厚仪只需调零，无需校准
测量精度高
一体分体通用
可配多种探头
中英文菜单操作
智能化
带存储，并可连计算机对数据进行处理分析
德国尼克斯QNix8500膜层测厚仪可连接薄镀层探头，对极薄的镀层厚度测量，误差小于±3um
可选探头：
Fe铁基探头： 0－2000μm 0－5000μm
NFe非铁基探头: 0－2000μm 0－5000μm
NFe/Fe两用探头：0－2000μm 0－5000μm
无线传输探头
薄镀层探头
德国尼克斯 QNix 8500膜层测厚仪可通过更换探头来满足不同的测量需求，可存储数据，并且可与计算机进行无线传输。探头可直接与主机连接，进行一体化测量，也可通过探头电缆线来与主机连接，进行分体测量。分体测量操作简单，可很大程度上避免误操作产生的误差。德国尼克斯 QNix 8500膜层测厚仪测厚仪主机通用，探头分为磁性探头、涡流探头及双用探头，探头的测量范围有0-2mm和0-5mm两种，用户在购买该产品时要根据需求选购合适的探头，如有不明白的地方敬请。
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