北京冠测精电仪器设备有限公司
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该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
测量半导电电阻率时： 电阻率10-4--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm
测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ
二、 数字电压表：
1． 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V
2． 测量误差 2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)
3． 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。
三、 恒流源：
1． 电流输出：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA．
2. 电流误差：±(0.5%读数+2字)
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