阻抗分析仪测介电常数

高低温介电温谱/频谱测量系统

一、 概述：

高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。

二、技术指标：

1、电极直径：10mm  数量：4个

2、电极材料：铂金

3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样

4、切换频率：可以自由设定试样切换时间

5、试验方式：手动模式  自动模式

6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告

7、测量频率：以实际电桥为准

8、温度范围：室温~950°精度±0.1°C

9、加温速率：2℃--10℃/min

10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线

10、机  箱：Q235钢板表面高温喷塑而成

11、仪器供电：AC:220V  50Hz   功率：2KW

12、测试电桥：国产

13、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。

仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。

阻抗分析仪测介电常数

高温四探针测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。

阻抗分析仪测介电常数

三、整机组成：

1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能

2、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据

3、LCR电桥：20HZ-2MHZ

阻抗分析仪测介电常数

功能特点：
公司自主研发有高温介电测试夹具、高温四探针夹具、高温两探针夹具，可与高温测试平台配套组成一套或多套高温阻抗、介电测量系统。
控温精度高
温度范围从室温至600、800℃，具备**的PID控制算法，控温精度可到±0.3℃，确保温度控制不超调。提供7种不同控温方式，满足客户多种测试需求。 国际标准测试，数据更加可靠; 高温介电测试夹具根据国际标准ASTM D150方法，采用平行板电极原理设计。电极由上电极、下电极以及保护电极组成。上下电**有良好的同心度和平行度，保护电极可减少周围空气电容的影响，使得测试数据更加准确可靠。
阻抗分析仪集成度高，可定制开发

介电常数测试仪及介质损耗测试仪

 一、满足标准：

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

 ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

二、方法概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为**。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路you效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

三、主要用途:

    主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）