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模块高温老化系统
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模块高温老化系统是一种用于电子与通信技术、产品应用相关工程与技术领域的工艺试验仪器,于2003年3月8日启用。
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模块高温老化系统
技术指标
系统烘箱部分:温度:室温~150℃,过冲≤3℃,升温时间≤40min,温度偏差≤±2℃,温度均匀度≤4℃双重超温保护装置:系统电源与电子负载部分:共32个老化试验区,每个老化区包含八路正电子负载和八路自适应电子负载(可正可负),每路电子负载工作条件(5V~30V,功率不超过75W)单个老化区电子负载总功率不超过19200W;电源输出电压范围:0~40V,输出电流范围:0~30A,纹波≤50mV。
[1]
模块高温老化系统
主要功能
对DC/DC电路进行专业的寿命试验,可以单独控制壳温,每个试验工位单独控温,单独监测,独立的试验系统。
[1]
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